SEM

Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM) to potężne i wszechstronne narzędzie do charakteryzacji materiałów. Dotyczy to zwłaszcza materiałów w skali nanometrycznej używanych coraz częściej w ostatnich latach w różnych zastosowaniach. Obrazy generowane za pomocą SEM dostarczają informacji na temat morfologii i składu próbki. Uzyskane dane są nieocenione w wielu zastosowaniach naukowych i przemysłowych.

Nasz skaningowy mikroskop elektronowy umożliwia oglądanie cech powierzchni przy powiększeniu od 5 do 50 000x, zapewniając wysokiej jakości obrazy. W połączeniu z detektorem EDX możliwe jest uzyskanie informacji o składzie pierwiastkowym powierzchni.

Oferujemy:

  • Obrazowanie przy dużym powiększeniu
  • Analiza metali, minerałów i kompozytów
  • Jakościowa i ilościowa analiza składu powierzchni.

Używamy mikroskopu Philips XL30 ESEM wyposażonego w:

  • Detektory SE i BSE
  • Detektor EDX
  • Tryb ESEM